技術開発ページに端部エコー法によるきず高さ測定を載せました。 2026年3月26日 最終更新日時 : 2026年3月26日 c-i-s 溶接に発生するキズ高さを調べる方法に端部エコー法があります。70°と45°で検出能の違いを比べてみました。