端部エコー法によるきず高さ測定 2026年3月26日 最終更新日時 : 2026年3月30日 c-i-s 端部エコー法によるきず高さ測定を行いました。 ここから *2026/3/30追記 3.の45°探触子(Focus)はインピーダンスマッチングを考えないで実施したため、 本来の性能が出ていない。